入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀
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產品名稱:
入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀
產品型號:
德國FISCHER X-RAY XAN 215
產品展商:
其它品牌
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簡單介紹
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。
入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀 的詳細介紹
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德國FISCHER X-RAY XAN
215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。
它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時可同時測定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設的準確性以及長期的穩定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。
先進的Si-PIN的完全基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產品應用：
典型的應用領域有：
珠寶、貴金屬和牙科用合金分析
黃金制品和K金制品分析
鉑金制品和銀制品分析
銠制品分析
其他合金分析和鍍層厚度測量
多鍍層厚度測量
我們會努力按照原廠技術參數翻譯編輯，如技術參數中英文有差異，以英文參數為準。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀：
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通用規格
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設計用途
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采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），
用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
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元素范圍
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從元素氯（17）到鈾（92），多時可同時測定24種元素。
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重復性
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測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
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形式設計
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臺式儀器，測量門向上開啟
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測量方向
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由下往上
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X射線源
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X射線管
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帶鈹窗口的鎢靶射線管
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高壓
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三檔：30KV，40KV，50KV
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孔徑（準直器）
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φ1mm；可選φ2mm
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測量點尺寸
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當測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm
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X射線探測
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X射線探測器
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采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
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能量分辨率
（Mn元素Kα半高寬）
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≤180eV
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測量距離
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0...10mm
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通過受專有保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。
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樣品定位
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樣品放置
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手動
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視頻系統
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高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監控
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十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸），可調節亮度的LED照明
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圖像發達倍數
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40x~160x
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工作臺
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形式設計
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固定工作臺
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樣品放置可用區域
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310x320mm
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樣品較大重量
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13KG
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樣品較高高度
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90mm
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電氣參數
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電源要求
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AC 220V 50Hz
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功耗
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較大120W（不包括計算機）
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保護等級
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IP40
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尺寸規格
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外部尺寸（寬x深x高）
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403x588x365mm
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重量
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大約45KG
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環境要求
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使用時溫度
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10℃~40℃
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存儲或運輸時溫度
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0℃~50℃
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空氣相對濕度
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≤95%，無結露
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計算單元
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計算機
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Windows®-PC
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軟件
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標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
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可選：Fischer WinFTM®
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執行標準
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CE合格標準
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EN 61010
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X射線標準
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DIN ISO 3497 和ASTM B 568
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形式批準
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作為受完全保護的儀器
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符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法規的規定
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