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產品資料

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀

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產品名稱: 日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀
產品型號: Cresbox
產品展商: 其它品牌
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀
測量模式可編程和圓形/方形測量兼容的繪圖軟件
自檢功能，測量范圍廣
厚度/周邊位置/溫度補償功能（硅）
薄層電阻/金屬膜厚顯示功能


日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀  的詳細介紹

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀

 

 

測量規格

測量目標

  • 日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
  • 其他（*請與我們聯系）

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm

 

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀測量范圍

[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq

測量規格

測量目標

  • 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
  • 其他（*請與我們聯系）

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm

 

測量范圍

[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq

測量規格

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀測量目標

  • 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
  • 其他（*請與我們聯系）

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm

 

測量范圍

[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀

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