日本napson緊湊易操作手動非接觸式電阻儀
測量目標
半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，SiC等） 新材料/功能材料相關（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等） 導電薄膜相關（金屬，ITO等） 硅基外延，離子與 半導體相關的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等） 其他（*請與我們聯系）
測量尺寸日本napson緊湊易操作手動非接觸式電阻儀
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻] 1m至200Ω·cm （*所有探頭類型的總范圍/厚度500um） [抗頁電阻] 10m至3kΩ / sq （*所有探頭類型的總范圍）
*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。 （1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至 0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm） （3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-cm） （4）S高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
測量目標日本napson緊湊易操作手動非接觸式電阻儀
測量尺寸
[電阻] 1m至200Ω·cm 日本napson緊湊易操作手動非接觸式電阻儀 （*所有探頭類型的總范圍/厚度500um） [抗頁電阻] 10m至3kΩ / sq （*所有探頭類型的總范圍）
埃登威自動化系統設備（上海）有限公司
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