napson計算機操作非接觸電阻測量裝置

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產品名稱: napson計算機操作非接觸電阻測量裝置

產品型號: NC-10（NC-20）

產品展商: 其它品牌

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簡單介紹

日本napson計算機操作非接觸電阻測量裝置
使用個人計算機節省空間，易于操作和數據處理
由于它是一種非接觸式渦流方法，因此可以進行測量而不會損壞它。
由于探頭是可拆卸和可更換的，因此可以方便地用每個量程的探頭進行替換。
（*對**個和后續電阻探頭的可選支持）
中心1點測量
厚度/溫度補償功能（硅晶片）

napson計算機操作非接觸電阻測量裝置 的詳細介紹

日本napson計算機操作非接觸電阻測量裝置

測量目標

半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導體相關的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯系）

測量尺寸

3-8英寸?156 x 156毫米
（可選; 2英寸或12英寸?210 x 210毫米）

測量范圍

[電阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度500um）
[板電阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總范圍）

*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-cm）
（4）S高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）

測量目標

測量尺寸

3-8英寸?156 x 156毫米
（可選; 2英寸或12英寸?210 x 210毫米）

測量范圍

[電阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度500um）
[板電阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總范圍）

日本napson計算機操作非接觸電阻測量裝置

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