日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀
校準后180天[校準后1年:1.5倍]的測量范圍和基本精度(環境溫度23°C±5°C)
* D =數字,n =積分時間(毫秒),%測量:α=(100 /標準設定值mΩ)x 0.01%,值測量:α= 0(加±1d) *完整屏蔽狀態下的精度
日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀AE-162D
埃登威自動化系統設備(上海)有限公司
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